Особливості

Типові сфери застосування:

• Аналіз дуже тонких покриттів, наприклад, золота / паладієвих із товщиною ≤ 0,1 мкм
• Вимірювання функціональних покриттів в електронній та напівпровідниковій промисловості, наприклад, вимірювання товщини золотих покриттів до 2 нм на свинцевих каркасах
• Аналіз слідів відповідно до вимог RoHS і WEEE
• Висококласний аналіз золота
• Визначення складних багатопокривних систем
• Автоматичні вимірювання, наприклад, контроль якості

Щоб створити ідеальні умови збудження для кожного вимірювання, прилад має електрично змінні апертури й первинні фільтри. Завдяки високоточному програмованому XY-столу це ідеальний вимірювальний інструмент для автоматизованих вимірювань зразків.

Надзвичайна точність і довгострокова стабільність є характеристиками всіх систем FISCHERSCOPE X-RAY. Значно зменшена необхідність повторного калібрування, що економить час і зусилля.

Метод фундаментальних параметрів FISCHER дає змогу аналізувати тверді й рідкі зразки, а також системи покриттів без калібрування.

Конструкція

XDV-SDD розроблено як зручний настільний інструмент. Він оснащений високоточним, програмованим XY-столиком і електричною віссю Z. Столик для зразків автоматично переміщується в положення завантаження, коли відкривається захисний кожух. Лазерна указка служить допоміжним засобом позиціонування та виконання швидкого вирівнювання зразка для вимірювання. Вбудований відеомікроскоп із функцією масштабування і хрестоподібною позначкою спрощує розміщення зразка й дає змогу точно налаштувати точку вимірювання.

Управління та оцінювання вимірювань, а також чітке представлення даних вимірювань виконуються на ПК за допомогою потужного й зручного програмного забезпечення WinFTM®.

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD відповідає вимогам DIN ISO 3497 і ASTM B 568. Це повністю захищені інструменти зі схваленням типу відповідно до німецького законодавства про радіаційний захист.