Особенности
Типовые сферы применения:
- Анализ очень тонких покрытий, например, золота / палладиевых с толщиной ≤ 0,1 мкм.
- Измерение функциональных покрытий в электронной и полупроводниковой промышленности, например измерение толщины золотых покрытий до 2 нм на свинцовых каркасах
- Анализ следов в соответствии с требованиями RoHS и WEEE
- Высококлассный анализ золота
- Определение сложных многослойных систем покрытий
- Автоматические измерения, например, контроль качества
Чтобы создать идеальные условия возбуждения для каждого измерения, прибор имеет электрически сменные апертуры и первичные фильтры. Благодаря высокоточному программируемому XY-столу это идеальный измерительный инструмент для автоматизированных измерений образцов.
Чрезвычайная точность и долговременная стабильность являются характеристиками всех систем FISCHERSCOPE X-RAY. Значительно уменьшена необходимость повторной калибровки, что экономит время и усилия.
Метод фундаментальных параметров FISCHER позволяет анализировать жесткие и жидкие образцы, а также системы покрытий без калибровки.
Конструкция
XDV-SDD разработан как удобный настольный инструмент. Он оснащен высокоточным, программируемым XY-столиком и электрической осью Z. Столик для образцов автоматически перемещается в положение загрузки, когда открывается защитный кожух. Лазерная указка служит вспомогательным средством позиционирования и быстрого выравнивания образца для измерения. Встроенный видеомикроскоп с функцией масштабирования и крестообразной меткой упрощает размещение образца и позволяет точно настроить точку измерения.
Управление и оценка измерений, а также четкое представление данных измерений выполняются на компьютере с помощью мощного и удобного программного обеспечения WinFTM®.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD отвечает требованиям DIN ISO 3497 и ASTM B 568. Это полностью защищенные инструменты с одобрением типа в соответствии с немецким законодательством о радиационной защите.
