Рентгенфлуоресцентні вимірювальні прилади для аналізу складу й визначення товщини покриттів дорогоцінних металів та їх сплавів XAN® 220 і 222
  • Особливості
  • Характеристики

Рентгенфлуоресцентні вимірювальні прилади FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 і 222 оптимізовані для неруйнівного аналізу ювелірних виробів, монет і дорогоцінних металів. Вони особливо підходять для аналізу складу й визначення товщини покриттів дорогоцінних металів та їх сплавів. Одночасно можна визначити до 24 елементів у складі й покритті.

Отримати комерційну пропозицію

Особливості

Типові сфери застосування – це аналіз:

  • Ювелірних виробів, дорогоцінних металів і стоматологічних сплавів
  • Жовтого й білого золота
  • Платини і срібла
  • Родію
  • Сплавів і покриттів
  • Багатошарових покриттів

Надзвичайна точність і довгострокова стабільність є характеристиками всіх систем FISCHERSCOPE X-RAY. Значно зменшена необхідність повторного калібрування, що економить час і зусилля.

Сучасний кремнієвий дрейфовий детектор забезпечує високу точність і хорошу чутливість виявлення.

Метод фундаментальних параметрів FISCHER дає змогу аналізувати тверді та рідкі зразки, а також системи покриттів без калібрування.

Конструкція

XAN 220 і XAN 222 розроблено як зручні настільні інструменти. Вони відрізняються опорним столом і розміром корпусу:

  • XAN 220: фіксований столик
  • XAN 222: столик у площині XY із ручним керуванням для точного позиціонування дрібних деталей і більшої вимірювальної камери

Для швидкого й простого позиціонування джерело рентгенівського випромінювання та блок напівпровідникового детектора розташовані в нижній камері приладу. Вимірювання відбувається знизу зразка, який підтримується прозорим вікном.

Вбудований відеомікроскоп із функцією масштабування і хрестоподібною позначкою спрощує розміщення зразка та дає змогу точно налаштувати точку вимірювання.

Управління й оцінювання вимірювань, а також чітке представлення даних вимірювань виконуються на ПК за допомогою потужного та зручного програмного забезпечення WinFTM®.

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 і 222 відповідають вимогам DIN ISO 3497 і ASTM B 568. XAN 220 повністю захищений інструмент зі схваленням типу відповідно до німецького законодавства про радіаційний захист.

Рентгенфлуоресцентні вимірювальні прилади FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 і 222 оптимізовані для неруйнівного аналізу ювелірних виробів, монет і дорогоцінних металів. Вони особливо підходять для аналізу складу й визначення товщини покриттів дорогоцінних металів та їх сплавів. Одночасно можна визначити до 24 елементів у складі й покритті.

Отримати комерційну пропозицію

Призначення

Енергодисперсійний рентгенфлуоресцентний вимірювальний прилад (EDXRF) для аналізу дорогоцінних металів та сплавів і товщини покриттів

Діапазон елементів

Від сірки S (16) до урану U (92) – до 24 елементів одночасно

Повторюваність

≤ 0.5‰ для золота, час вимірювання 60 с

Конструкція

Настільний прилад із кришкою, що відкривається вгору

Напрямок вимірювання

Знизу вгору

Джерело рентгенівського випромінювання

 

Рентгенівська трубка

Мікрофокусна вольфрамова трубка з берилієвим вікном

Висока напруга

Три ступені: 30 кВ, 40 кВ, 50 кВ

Макс. анодний струм: 1 мА

Діафрагма (коліматор)

Ø 1 мм, опція Ø 2 мм або Ø 0,6 мм

Розмір точки вимірювання

Ø 1,2 мм з апертурою Ø 1 мм і плоским зразком (відстань вимірювання 0 мм)

Детектування рентгенівського випромінювання

 

Рентгенівський детектор

Кремнієвий дрейфовий детектор (SDD) з охолодженням на елементах Пельтьє

Роздільна здатність (для Mn-Kα)

≤ 135 eВ

Вимірювальна відстань

0–25 мм

Компенсація відстані за допомогою запатентованого методу DCM для спрощених вимірювань на

регульованій відстані. Для спеціальних задач або для підвищених вимог до точності може знадобитись додаткове калібрування

Вирівнювання зразка

 

Позиціонування зразка

Вручну

Відеомікроскоп

Кольорова CCD-камера високої роздільної здатності для оптичного контролю місця вимірювання

по осі основного променя, хрестоподібна мітка з каліброваною шкалою (лінійкою) і точковим індикатором, регульоване світлодіодне підсвічування

Коефіцієнт масштабування

Цифрове 1x, 2x, 3x, 4x

Столик для зразків

XAN 220

XAN 222

Конструкція

Фіксований столик

Столик із ручним переміщенням по осях XY

Корисна площа для розміщення зразка

310 x 320 мм

Максимальна вага зразка

13 кг

2 кг

Максимальна висота зразка

90 мм

174 мм

Електричні характеристики

 

Джерело живлення

100–240 В / 50–60 Гц

Споживана потужність

Макс. 120 Вт, без ПК для оцінювання

Клас захисту

IP40

Розміри

XAN 220

XAN 222

Зовнішні габарити

403 x 588 x 365 мм

403 x 588 x 444 мм

Вага

Прибл. 45 кг

Умови зовнішнього середовища

 

Робоча температура

10…40°C

Температура зберігання/транспортування

0…50°C

Допустима вологість повітря

≤ 95%, без конденсації

Блок оцінки

 

Комп’ютер

Windows ® ПК

Програмне забезпечення

Стандартно: Fischer WinFTM® BASIC, включно з PDM®

Опція: Fischer WinFTM® SUPER

Стандарти

 

Декларація відповідності CE

EN 61010, EN 61326

Стандарти щодо рентгенівського випромінювання

DIN ISO 3497 і ASTM B 568

Сертифікація

Повністю захищені інструменти зі схваленням типу відповідно до законодавства Німеччини про радіаційних захист

Індивідуальне приймання як повністю захищених інструментів зі схваленням типу відповідно до законодавства Німеччини про радіаційний захист