Універсальні рентгенфлуоресцентні прилади для вимірювання товщини та аналізу тонких покриттів деталей масового виробництва, друкованих плат, а також аналізу розчинів XDL® 210, 220, 230, 240
  • Особливості
  • Характеристики

FISCHERSCOPE X-RAY XDL є універсальними енергодисперсійним рентгенівськими вимірювальними приладами. Вони особливо підходять для неруйнівного вимірювання товщини й аналізу тонких покриттів, для вимірювань деталей масового виробництва і друкованих плат, а також для аналізу розчинів. Прилади ідеальні для вимірювань у сфері забезпечення якості, вхідного контролю та контролю техпроцесів.

Отримати комерційну пропозицію

Особливості

Типові сфери застосування:

  • Вимірювання гальванічних деталей масового виробництва
  • Перевірка тонких покриттів, наприклад, декоративного хромування
  • Аналіз функціональних покриттів в електронній і напівпровідниковій промисловості
  • Автоматичні вимірювання, наприклад, на друкованих платах
  • Аналіз електролітів у гальваніці

Надзвичайна точність і довгострокова стабільність є характеристиками всіх систем FISCHERSCOPE X-RAY. Значно зменшена необхідність повторного калібрування, що економить час і зусилля.

Висока швидкість обрахунку досягається за допомогою пропорційної лічильної трубки, що дає змогу проводити точні вимірювання.

Метод фундаментальних параметрів FISCHER дає змогу аналізувати тверді і рідкі зразки, а також системи покриттів без калібрування.

Конструкція

FISCHERSCOPE X-RAY XDL мають модульну конструкцію, що робить їх зручними настільними інструментами. Залежно від функціонального призначення доступні різні версії з різними опорними майданчиками та з фіксованою або регульованою віссю Z:

  • XDL 210: плоский опорний столик, фіксована вісь Z
  • XDL 220: плоский опорний столик, моторизована вісь Z
  • XDL 230: столик із ручним переміщенням у площині XY, моторизована вісь Z
  • XDL 240: столик із приводом від двигуна у площині XY, що автоматично переміщується в положення завантаження, коли відкривається захисний кожух. Програмована вісь Z із приводом від електродвигуна

Кольорова відеокамера високої роздільної здатності спрощує точне визначення точки вимірювання. У моделях, оснащених рухомим столиком по осях XY лазерна вказівка служить для допоміжного позиціонування й допомагає швидко вирівнювати зразка для вимірювання.

Зазор у корпусі дає змогу проводити вимірювання на великих плоских зразках, які не поміщаються у вимірювальну камеру, наприклад, на великих друкованих платах.

Вбудований відеомікроскоп із функцією масштабування та хрестоподібною позначкою спрощує розміщення зразка й дає змогу точно налаштувати точку вимірювання.

Управління та оцінювання вимірювань, а також чітке представлення даних вимірювань виконуються на ПК за допомогою потужного й зручного програмного забезпечення WinFTM®.

Прилади серії FISCHERSCOPE XDL відповідають DIN ISO 3497 і ASTM B 568. Це повністю захищені інструменти зі схваленням типу відповідно до німецького законодавства про радіаційний захист.

FISCHERSCOPE X-RAY XDL є універсальними енергодисперсійним рентгенівськими вимірювальними приладами. Вони особливо підходять для неруйнівного вимірювання товщини й аналізу тонких покриттів, для вимірювань деталей масового виробництва і друкованих плат, а також для аналізу розчинів. Прилади ідеальні для вимірювань у сфері забезпечення якості, вхідного контролю та контролю техпроцесів.

Отримати комерційну пропозицію

Призначення

Енергодисперсійний рентгенівський флуоресцентний вимірювальний прилад (EDXRF) для визначення товщини тонких

покриттів і аналізу складу

Діапазон елементів

Від титану Ti (22) до урану U (92) – до 24 елементів одночасно з опцією WinFTM® BASIC

Конструкція

Настільний прилад із кришкою, що відкривається вгору

Напрямок вимірювання

Згори вниз

Джерело рентгенівського випромінювання

 

Рентгенівська трубка

Вольфрамова, термостабілізована

Висока напруга

Три ступені: 30 кВ, 40 кВ, 50 кВ; макс. анодний струм: 1 мА

Діафрагма (коліматор)

Ø 0,3 мм, опція: Ø 0,1 мм, Ø 0,2 мм, щілина 0,3 x 0,05 мм

Розмір точки вимірювання

Фактичний розмір залежить від відстані до зразка та розміру діафрагми. Розмір точки відображається на відеозображенні.

Найменша точка вимірювання: прибл. Ø 0,2 мм

Детектування рентгенівського випромінювання

 

Рентгенівський детектор

Пропорційна лічильна труба

Вимірювальна відстань

0–80 мм. Компенсація відстані за допомогою запатентованого методу DCM для спрощених вимірювань на регульованій відстані. Для спеціальних завдань або для підвищених вимог до точності може знадобитися додаткове калібрування

Вирівнювання зразка

 

Відеомікроскоп

Кольорова CCD-камера високої роздільної здатності для оптичного контролю місця вимірювання по осі основного променя, ручне фокусування й автофокусування, хрестоподібна мітка з каліброваною шкалою (лінійкою) і точковим індикатором, регульоване світлодіодне підсвічування

Коефіцієнт масштабування

Цифрове 1x, 2x, 3x, 4x

Електричні характеристики

 

Джерело живлення

100–240 В / 50–60 Гц

Споживана потужність

Макс. 120 ВА, без ПК для оцінювання

Клас захисту

IP40

Розміри

 

Зовнішні габарити (Ш x Г x В)

 570 x 760 x 650 мм

Камера для вимірювання, внутрішні габарити (Ш x Г x В)

460 x 495 x див. максимальну висоту зразка

Вага

XDL 210: 94 кг; XDL 220: 99 кг; XDL 230: 107 кг; XDL 240: 120 кг

Умови зовнішнього середовища

 

Робоча температура

10…40°C

Температура зберігання / транспортування

0…50°C

Допустима вологість повітря

≤ 95%, без конденсації

Столик для зразків

XDL 210

XDL 220

XDL 230

XDL 240

Конструкція

Фіксований столик

Фіксований столик

Столик із ручним переміщенням по осях XY

Програмований столик із переміщенням по осях XY

Максимальний хід по осях XY

-

-

95 x 150 мм

255 x 235 мм

Швидкість переміщення по осях XY

 

 

 

≤ 80 мм/с

Точність повторного позиціонування XY

 

 

 

≤ 0,01 мм (*1)

Корисна площа для розміщення зразка

463 x 500 мм

463 x 500 мм

420 x 450 мм

300 x 350 мм

Вісь Z

Фіксоване положення

Електронне налаштування

Електронне налаштування

Програмована

Хід осі Z

 

140 мм

140 мм

140 мм

Максимальна вага зразка

20 кг

20 кг

20 кг

5 кг /

20 кг (*2)

Максимальна висота зразка

155 мм або  90 мм або 25 мм

140 мм або опціонально:

290 мм (*3)

140 мм

140 мм

Лазерна указка (клас 1)

-

-

Так

Так

 

(*1) незалежно від напрямку

(*2) зі зниженою точністю переміщення

(*3) опціонально на запит: без фіксованого стола для зразків. Якщо вибрано цю опцію, схвалення типу скасовується, і необхідна індивідуальна приймальна перевірка відповідно до закону Німеччини про радіаційний захист

Блок оцінювання

 

Комп’ютер

Windows® ПК з картою розширення

Програмне забезпечення

Стандартно: Fischer WinFTM ® LIGHT.

Опція: Fischer WinFTM ® BASIC, PDM ®, SUPER

Стандарти

 

Декларація відповідності CE

EN 61010, EN 61326

Стандарти по рентгенівському випромінюванню

DIN ISO 3497 та ASTM B 568

Сертифікація

Повністю захищені інструменти зі схваленням типу відповідно до законодавства Німеччини про радіаційний захист