Особливості
- Вимірювання й розрахунок параметрів матеріалу відповідно до DIN EN ISO 14577-1 (Додаток A) і ASTM E 2546
- Визначення численних пластичних і пружних властивостей, таких як твердість за Віккерсом, модуль вдавлювання та повзучість
- Динамічний режим вимірювання (динамічний механічний аналіз)
- Підходить для випробування твердих матеріалів і покриттів у нанометровому діапазоні, діапазон випробувальних зусиль 0,005–500 мН
- Модульна конструкція дозволяє легко адаптуватися до ваших потреб
- Нульова точка визначається менш ніж за хвилину, що дає змогу проводити швидкі вимірювання
- Програмований столик XY із точністю позиціонування 0,5 мкм дає змогу проводити вимірювання на невеликих ділянках, таких як з’єднувальні дроти
- Можна виміряти зразки висотою до 13 см
- Високоякісний науковий мікроскоп
- Термічно стабільний: вимірює за постійної температури протягом кількох годин
- Потужне програмне забезпечення WIN-HCU для інтуїтивно зрозумілої роботи й оцінювання
- Індентори: Віккерса, Берковича або твердосплавні кулькові, а також спеціальні індентори на запит
Компанія Fischer прагне максимально спростити Вашу роботу. Незалежно від того, мають деталі темні поверхні, складну геометрію чи вони дуже маленькі, просто почніть вимірювання, підготовка зразка не потрібна! Завдяки автоматизованому предметному столику та потужному мікроскопу Ви можете запрограмувати автоматизовані тести всього за кілька клацань миші.
Застосування
- Вимірювання на дуже маленьких тестових ділянках, наприклад, контактних майданчиках у напівпровідниковій промисловості
- Аналіз іонно-імплантованих поверхонь
- Тестування наношарів за допомогою датчиків
- Вимірювання на біологічних матеріалах
- Динаміко-механічний аналіз малих зразків
- Вимірювання твердості й еластичності покриттів PVD, CVD, таких як DLC (алмазоподібний вуглець), а також шарів хімічного нікелю
- Автоматичні вимірювання на кількох зразках
- Визначення механічних властивостей конструктивних елементів у матеріалографії
