Головна
Контроль геометрії
Високоточні вимірювання
Портативні КВМ
Артикулярна координатно-вимірювальна машина з лазерним сканером R-EVO R-SCAN, RPS Metrology

Артикулярна координатно-вимірювальна машина з лазерним сканером R-EVO R-SCAN, RPS Metrology

Особливості

Артикулярна координатно-вимірювальна машина з лазерним сканером R-EVO R-SCAN, RPS Metrology, рис. 1

Артикулярна координатно-вимірювальна машина з лазерним сканером R-EVO R-SCAN, RPS Metrology, рис. 2

Артикулярна координатно-вимірювальна машина з лазерним сканером R-EVO R-SCAN, RPS Metrology, рис. 3

Сканувальна система R-SCAN, створена на основі версії R-EVO7 R, використовує високопродуктивний лазерний сканер на маніпуляторі RPS вищого класу. R-SCAN із частотою дискретизації 400 Гц забезпечує блискавичну швидкість отримання даних.

Лазерний лінійний зонд R-SCAN BLUE – це оптично досконала технологія синього лазера, заснована на семиосьовому маніпуляторі R-EVO. Він забезпечує дуже хороші результати сканування з вищою роздільною здатністю й низьким рівнем шуму, що дозволяє фіксувати дрібні деталі об’єкта.

Отримати комерційну пропозицію

Особливості

Вимірювальні рішення R-EVO з оптимальною конфігурацією відповідають найвибагливішим стандартам точності:
- ISO 10360-12 для вимірювань за допомогою контактного датчика
- ISO 10360-8 для лазерного сканування
Надзвичайна зручність використання й портативність:
- Унікальна система противаги SFC для надзвичайно комфортного використання
- Загальна невелика вага системи
- Автоматичне з’єднання для швидкої заміни датчиків без необхідності повторного калібрування
- Широкий діапазон робочих температур з автоматичною компенсацією
- Акумулятор з автономністю до 22 год
Вбудоване бездротове з’єднання:
- Бездротовий Bluetooth або Wi-Fi
Просте кріплення на будь-якій опорі:
- Стандартна опорна плита, магнітна основа, мобільний штатив та індивідуальні опції
Широкий діапазон доступних розмірів:
- Перший найширший діапазон продуктів від 2 до 4,5 м, з версією TITANIUM – 5, 6, 7 і до 9 м
Сумісність програмного забезпечення:
- Драйвери та плагіни доступні для багатьох програмних рішень у сфері метрології або реверс-інжинірингу