Особливості
- Завдяки гнучкості й надвисокій точності модель Nikon NEXIV VMZ-H3030 може стати основним інструментом у вимірювальній лабораторії. Завдяки оптимальному поєднанню скляних шкал із низьким коефіцієнтом теплового розширення й апаратних рішень мікроскоп дозволяє досягти субмікронного рівня точності.
- Високошвидкісне лазерне автофокусування дозволяє проводити аналіз поперечних перерізів і оцінювання площинності, а також тривимірне замірювання профілю поверхні прес-форм і штампувань.
- Широкий вибір освітлювачів забезпечує точне визначення межі поділу.
Новий модуль VMR-Z120X забезпечує діапазон збільшення від 1х до 120х завдяки застосуванню двох об'єктивів і зміні оптичного шляху. 8-ступінчасте масштабування дозволяє системі проводити швидкі вимірювання сотень різних параметрів і важливі вимірювання ліній шириною від 1 мкм за постійного поля зору.
Особливості
- Модуль максимального збільшення в поєднанні з високоточним предметним столиком дозволяє проводити точний вимір як великих деталей, так і мініатюрних структур.
- Система лазерного автофокусування здійснює фокусування щодо точки малого розміру, щоб забезпечити високу точність вимірювання поперечних перерізів і висоти дрібних деталей.
- Програмне забезпечення для аналізу поверхні, що постачається як опція, дозволяє відображати форми деталей MEMS у тривимірному поданні.
- Знаменита оптика Nikon CFI60-2 без внутрішніх напружень забезпечує чіткі, висококонтрастні зображення, тому ця система найкраще підходить для спостереження підкладок РК-дисплеїв великого розміру та світлофільтрів. Система дозволяє проводити як спостереження деталі, так і вимірювання її розмірів із застосуванням технологій оброблення зображень. За допомогою призми високого диференціально-інтерференційного розмаїття можна також отримувати зображення з покращеним контрастом.
Сфери застосування
Друковані плати, мікрозбірки, підкладки, корпуси (2D + висота), деталі MEMS.
