|
Вимірювання напруги перешкод UN (RMS) (діапазон частот 45…65 Гц)
|
|
Діапазон
|
Дискретність
|
Похибка
|
|
0–100 В
|
1 В
|
± (2% в. в. + 3 о. м. р.)
|
|
Вимірювання частоти перешкод fN (вимірювання для напруги перешкод > 1 В)
|
|
Діапазон
|
Дискретність
|
Похибка
|
|
15–450 Гц
|
1 Гц
|
± (1% в. в. + 2 о. м. р.)
|
|
Вимірювання опору провідників та вирівнювання потенціалів (2p) (діапазон вимірювання 0,045 Ом–19,9 кОм)
|
|
Діапазон
|
Дискретність
|
Похибка основна
|
|
0,000–3,999 Ом
|
0,001 Ом
|
± (2% в. в. + 4 о. м. р.)
|
|
4,00–39,99 Ом
|
0,01 Ом
|
± (2% в. в. + 2 о. м. р.)
|
|
40–399,9 Ом
|
0,1 Ом
|
|
400–3999 Ом
|
1 Ом
|
|
4,00–19,99 кОм
|
0,01 кОм
|
± (5% в. в. + 2 о. м. р.)
|
|
Вимірювання опору заземлювальних пристроїв (3p, 4p) (діапазон вимірювання 0,100 Ом – 19,9 кОм)
|
|
Діапазон
|
Дискретність
|
Похибка основна
|
|
0,000–3,999 Ом
|
0,001 Ом
|
± (2% в. в. + 4 о. м. р.)
|
|
4,00–39,99 Ом
|
0,01 Ом
|
± (2% в. в. + 2 о. м. р.)
|
|
40–399,9 Ом
|
0,1 Ом
|
|
400–3999 Ом
|
1 Ом
|
|
4,00–19,99 кОм
|
0,01 кОм
|
± (5% в. в. + 2 о. м. р.)
|
|
Вимірювання опору заземлюих пристроїв 3трипровідним методом + кліщі (3p + кліщі) (діапазон вимірювання 0,120 Ом – 1,99 кОм)
|
|
Діапазон
|
Дискретність
|
Похибка основна
|
|
0,000–3,999 Ом
|
0,1 Ом
|
± (8% в. в. + 4 о. м. р.)
|
|
4,00–39,99 Ом
|
1 Ом
|
± (8% в. в. + 3 о. м. р.)
|
|
40,0–399,9 Ом
|
0,01 Ом
|
|
400–1999 Ом
|
1 Ом
|
|
Вимірювання опору заземлювальних пристроїв методом двох кліщів
|
|
Діапазон
|
Дискретність
|
Похибка основна
|
|
0,00–19,99 Ом
|
0,01 Ом
|
± (10% в. в. + 3 о. м. р.)
|
|
20,0–149,9 Ом
|
1 Ом
|
± (20% в. в. + 3 о. м. р.)
|
|
Вимірювання питомого опору ґрунту (згідно з методом Веннера, ρ = 2πLRE, відстань між вимірювальними зондами (L): 1–50 м)
|
|
Діапазон
|
Дискретність
|
Похибка основна
|
|
0–199,9 Ом
|
0,01 Ом
|
± (2% в.в. + 4 о.м.р.)
|
|
200…1999 Ом
|
1 Ом
|
± (2% в.в. + 2 о.м.р.)
|
|
2,00–19,99 кОм
|
0,01 кОм
|
|
20,0–99,9 кОм
|
0,1 кОм
|
|
100–999 кОм
|
1 кОм
|
|
Вимірювання опору заземлювальних пристроїв і блискавкозахисту імпульсним методом
|
|
Діапазон
|
Дискретність
|
Похибка основна
|
|
0,0–99,9 Ом
|
0,1 Ом
|
± (2,5% в. в. + 3 о. м. р.)
|
|
100–199 Ом
|
1 Ом
|
|
Вимірювання опору вимірювальних зондів
|
|
Діапазон
|
Дискретність
|
Похибка основна
|
|
0–999 Ом
|
1 Ом
|
± 5% (RE+RH+RS) + 8 о. м. р.
|
|
1,00–9,99 кОм
|
0,01 кОм
|
|
10,0–19,9 кОм
|
0,1 кОм
|
|
Вимірювання струму витоку (RMS) (діапазон частоти 45–65 Гц) (1 – кліщі (діаметр 52 мм) – C-3, 2 – гнучкі кліщі – F-1)
|
|
Діапазон
|
Дискретність
|
Похибка основна
|
|
0–99,9 мA1
|
0,1 мА
|
± (8% в. в. + 5 о. м. р.)
|
|
100–999 мA1
|
1 мA
|
± (8% в. в. + 3 о. м. р.)
|
|
1,00–4,99 A1,2
|
0,01 A
|
± (5% в. в. + 5 о. м. р.)1
Не використовується 2
|
|
5,00–9,99 A1,2
|
0,01 A
|
± (5% в. в. + 5 о. м. р.)
|
|
10,0–99,9 A1,2
|
0,1 A
|
|
100–300 A1,2
|
1 A
|
|
|
Клас ізоляції
|
Подвійна
|
|
Категорія безпеки
|
Кат. III, 600 В і кат. IV, 300 В
|
|
Ступінь захисту корпусу
|
IP 54
|
|
Максимальна напруга шуму (сума змінного та постійного струму), при якому можуть проводитися вимірювання
|
24 В
|
|
Максимальне значення струму шуму, при якому вимірювання може бути здійснено (з використанням кліщів)
|
3 A RMS
|
|
Частота вимірювального струму
|
125 Гц для мереж 16 2/3 Гц, 50 Гц та 400 Гц
150 Гц для мереж 60 Гц
|
|
Вимірювальна напруга та струм для 2p
|
U < 24 В RMS, I ≥ 200 мA для R ≤ 2 Ом
|
|
Вимірювальна напруга для 3p, 4p
|
25 або 50 В
|
|
Вимірювальний струм 3p, 4p
|
> 200 мA
|
|
Максимальний опір вимірювальних зондів
|
20 кОм
|
|
Індикація струму перешкод (кліщі)
|
≤ 0,5 мA
|
|
Живлення вимірювача
|
Пакет акумуляторів SONEL NiMH, 4,8 В, 4,2 А∙ч
|
|
Кількість вимірювань опору R 2p
|
> 1500 (1 Ом, 2 вим./хв)
|
|
Кількість вимірювань RE
|
> 1200 (RE=10 Ом, RH=RS=100 Ом, 2 вим./хв)
|
|
Тривалість вимірювання опору для методу 2p
|
< 6 секунд
|
|
Тривалість вимірювання для інших методів
|
< 8 секунд
|
|
Габаритні розміри
|
288 x 223 x 75 мм
|
|
Маса
|
приблизно 2 кг
|
|
Робоча температура
|
-10…+50°C
|
|
Температура заряджання акумуляторів
|
+10…+40°C
|
