facebook

Xstress DR45 2D

  • Особливості
  • Характеристики

Рентгенівський дифрактометр Xstress DR45 з 2D-детекторами й автоматичним обертанням – прилад для швидкого й точного вимірювання залишкових напружень, що забезпечує широкий спектр високоякісних даних для аналізу. Він ідеально підходить для контролю якості, моніторингу промислових процесів і дослідницьких експериментів.

Особливості

  • Швидке й точне вимірювання залишкових напружень:
    • Результати вимірювання залишкової напруги (МПа) за менше ніж 45 с (коліматор 1 мм, трубка Cr, загартована інструментальна сталь, 5/5 нахилів)
    • Швидке вимірювання залишкової напруги навіть у складних матеріалах, наприклад, з великим розміром зерна або текстурою
    • Вимірювання з невеликим розміром плями можливе за розумний час
    • Використовує традиційний і перевірений метод вимірювання sin2ψ як у модифікованих геометріях вимірювання χ, так і у Ω
  • Кілька напрямків вимірювання завдяки автоматизованому обертанню:
    • Вимірювання залишкових напружень із кількох напрямків, що допомагає розраховувати головне напруження
    • Обертання з коливанням підвищує точність вимірювання складних матеріалів
  • Розширені додаткові функції:
    • 2D-аналіз інтенсивності, наприклад, для оцінювання розміру зерна й текстури
    • Покращений аналіз ширини піку для оцінювання твердості
    • Вимірювання в режимі безперервного сканування

Модульна система дає змогу інвестувати в необхідні функції зараз, з можливістю подальшого оновлення в міру розвитку ваших потреб. На додаток до Xstress DR45 доступні опції, наприклад, для вимірювання залишкового аустеніту й автоматизованих функцій картографування.