facebook

Xstress DR45 2D

  • Особливості
  • Характеристики

Рентгенівський дифрактометр Xstress DR45 з 2D-детекторами й автоматичним обертанням – прилад для швидкого й точного вимірювання залишкових напружень, що забезпечує широкий спектр високоякісних даних для аналізу. Він ідеально підходить для контролю якості, моніторингу промислових процесів і дослідницьких експериментів.

Отримати комерційну пропозицію

Особливості

  • Швидке й точне вимірювання залишкових напружень:
    • Результати вимірювання залишкової напруги (МПа) за менше ніж 45 с (коліматор 1 мм, трубка Cr, загартована інструментальна сталь, 5/5 нахилів)
    • Швидке вимірювання залишкової напруги навіть у складних матеріалах, наприклад, з великим розміром зерна або текстурою
    • Вимірювання з невеликим розміром плями можливе за розумний час
    • Використовує традиційний і перевірений метод вимірювання sin2ψ як у модифікованих геометріях вимірювання χ, так і у Ω
  • Кілька напрямків вимірювання завдяки автоматизованому обертанню:
    • Вимірювання залишкових напружень із кількох напрямків, що допомагає розраховувати головне напруження
    • Обертання з коливанням підвищує точність вимірювання складних матеріалів
  • Розширені додаткові функції:
    • 2D-аналіз інтенсивності, наприклад, для оцінювання розміру зерна й текстури
    • Покращений аналіз ширини піку для оцінювання твердості
    • Вимірювання в режимі безперервного сканування

Модульна система дає змогу інвестувати в необхідні функції зараз, з можливістю подальшого оновлення в міру розвитку ваших потреб. На додаток до Xstress DR45 доступні опції, наприклад, для вимірювання залишкового аустеніту й автоматизованих функцій картографування.

Рентгенівський дифрактометр Xstress DR45 з 2D-детекторами й автоматичним обертанням – прилад для швидкого й точного вимірювання залишкових напружень, що забезпечує широкий спектр високоякісних даних для аналізу. Він ідеально підходить для контролю якості, моніторингу промислових процесів і дослідницьких експериментів.

Отримати комерційну пропозицію
  • Xstress DR45, дифрактометр:
    • Програмно керований нахил головки рентгенівської трубки на ± 45°
  • Поворотний штатив для Xstress DR45
    • Поворотний штатив забезпечує точне, кероване програмним забезпеченням обертання дифрактометра на ± 180°
  • Набір 2D-детекторів для Xstress DR45:
    • Квантова ефективність > 90 % за 5 кеВ
    • 256 × 256 пікселів із розміром пікселя 55 мкм
    • Відсутність темнового струму
    • Діапазон 2θ детекторів: регулюється в межах 127°…165°
    • Індексовані положення 135° / 140° / 145° / 150° / 156,4°
  • Xstress MU:
    • Вільно регульоване джерело живлення рентгенівського випромінювання: 5–30 кВ/0–10 мА
    • Автономна система рідинного охолодження
    • Комплексні запобіжні блокування
    • Інтерфейс із сенсорним екраном
  • Xstress Studio:
    • Контроль вимірювань і аналіз даних
    • Візуалізація вимірювань
    • Керування роботою обладнання
    • Відповідає стандарту EN 15305:2008
    • 2D-аналіз інтенсивності, наприклад, для визначення розміру й текстури зерен
    • Покращений аналіз ширини дифракційного піку (FWHM) для оцінювання твердості
  • Рентгенівська трубка:
    • Високовольтна змінна рентгенівська трубка з водяним охолодженням забезпечує оптимальну стабільність температури
    • Хром (Cr) як стандарт
    • Макс. вихідна потужність 30 кВ / 9 мА / 270 Вт
  • Вимірювальні аксесуари:
    • Коліматори різних розмірів, стандартні розміри плями 0,5 / 1 / 2 / 3 / 4 мм
    • Набір зразків порошку без напруги для калібрування відстані, Fe феритний / Fe аустенітний / Al в стандартній комплектації
зателефонувати