Исследовательская система качества битума, согласно EN 13632 на базе люминесцентного микроскопа LV150N, Nikon Metrology
- Особенности
- Характеристики
Уникальная система на основе люминесцентного микроскопа LV150N с флуоресцентной приставкой позволяет проводить исследования в соответствии со стандартом EN 13632 «Битум и битумные вяжущие. Визуальная оценка полимерной дисперсии в полимер-модифицированном битуме». В соответствии со стандартом EN 13632, битумный слой разбивают на мелкие кусочки, а свежеразломанную поверхность рассматривают через эпифлуоресцентный (возбуждение падающим светом) микроскоп при увеличении от 25 до 500 раз. Установлен специальный набор светофильтров для возбуждения флуоресценции всех применяемых в производстве полимеров. Объективы с увеличенным рабочим расстоянием позволяют работать как с подготовленными пробами, так и непосредственно с битумом, нанесенным на подложку.
Система документирования позволяет сохранять полученные изображения и вставлять их в отчеты. Специальное ПО позволяет из анализа полученных изображений автоматически оценивать дисперсность битумно-полимерного состава ПБВ.
Получить коммерческое предложение
Особенности
|
Программное обеспечение SEO ImageLab для анализа изображений и оценки дисперсности битумно-полимерного состава ПБВ
Программное обеспечение SEO ImageLab предназначено для работы в исследовательских и промышленных целях, а также для лабораторного контроля качества.
Функциональные возможности обеспечивают проведение морфологических и фотометрических исследований препаратов в материаловедении и смежных областях.
Основные возможности SEO ImageLab
• Загрузка ранее записанных изображений в основных графических форматах BMP, JPEG, GIF, TIFF, PNG и сохранение обработанных изображений;
• Работа с загруженными изображениями в следующих режимах:
- калибровка;
- преобразование и улучшение изображений с помощью фильтров;
- проведение линейных и угловых измерений;
- автоматизированное и ручное выделение и измерение объектов; морфологический и фазовый анализ;
- статистическая обработка результатов измерений, построение диаграмм распределения по параметрам измерений;
- сохранение результатов измерений;
- протоколирование исследований.
|
С помощью статистической обработки изображений микроструктуры возможно вывести распределение по интересующему параметру измерений (например, средний эквивалентный диаметр, площадь, периметр и т. п.) и все необходимые статистические данные (количество измеренных объектов, среднее и суммарное значение параметра, СКО параметра, минимальное и максимальное значение параметра, коэффициент вариации).
Уникальная система на основе люминесцентного микроскопа LV150N с флуоресцентной приставкой позволяет проводить исследования в соответствии со стандартом EN 13632 «Битум и битумные вяжущие. Визуальная оценка полимерной дисперсии в полимер-модифицированном битуме». В соответствии со стандартом EN 13632, битумный слой разбивают на мелкие кусочки, а свежеразломанную поверхность рассматривают через эпифлуоресцентный (возбуждение падающим светом) микроскоп при увеличении от 25 до 500 раз. Установлен специальный набор светофильтров для возбуждения флуоресценции всех применяемых в производстве полимеров. Объективы с увеличенным рабочим расстоянием позволяют работать как с подготовленными пробами, так и непосредственно с битумом, нанесенным на подложку.
Система документирования позволяет сохранять полученные изображения и вставлять их в отчеты. Специальное ПО позволяет из анализа полученных изображений автоматически оценивать дисперсность битумно-полимерного состава ПБВ.
Получить коммерческое предложение
|
Комплектация
|
Наименование
|
Характеристики
|
Кол-во
|
|
MBA61015
|
Стенд микроскопа Eclipse LV150N (100-240 В)
|
1
|
|
MBF11300
|
Кабель питания
|
1
|
|
MBB63425
|
Тринокулярная голова LV-TI3 (поле зрения 22 или 25 мм, распределение интенсивности 100:0/0:100)
|
1
|
|
MBB63435
|
Адаптер LV-TV для LV-TI3
|
1
|
|
MAK30105
|
Окуляр CFI 10X с подстройкой диоптрий (поле зрения 25 мм)
|
2
|
|
MBP60125
|
5-позиционная револьверная головка LV-NU5
|
1
|
|
MBC60700
|
Механический стол L-S64, ход 75×50 мм, вставка из стекла
|
1
|
|
MUE12030
|
Объектив CFI T Plan Epi 2.5X, (NA/WD: 0.075/6.5 мм)
|
1
|
|
MUD00050
|
Объектив MTI LE PLAN EPI 5x (NA/WD: 0.10/31 мм)
|
1
|
|
MUD00100
|
Объектив MTI LE PLAN EPI 10x (NA/WD: 0.25/13 мм)
|
1
|
|
MUD00200
|
Объектив MTI LE PLAN EPI 20x (NA/WD: 0.40/3.6 мм)
|
1
|
|
MUD00500
|
Объектив MTI LE PLAN EPI 50x (NA/WD: 0.75/0.50 мм)
|
1
|
|
MBE60201
|
Приставка для эпископического освещения LV-UEPI-2, с возможностью работы в УФ диапазоне и реализации светлого поля, темного поля, поляризации, ДИК, двухлучевой интерферометрии
|
1
|
|
MBE65275
|
Центрированный осветитель LV-LH50PC
|
1
|
|
MXA23045
|
Галогеновая лампа LV-HL50W (12 В, 50 Вт)
|
1
|
|
MQD42055
|
Адаптер для подключения камеры C-0.55X
|
1
|
|
|
Цифровая фотокамера ToupCam 800 UCMOS 8.0MP (C-mount)
Технические характеристики ToupCam 800 UCMOS (C-mount):
- Модель сенсора: Aptina MT9M001.
- Развертка: прогрессивная.
- Максимальное разрешение: 3264 x 2448 (~8.0 Мпикс).
- Размер сенсора: 1/2.5" (5.451 мм (H) x 4.088 мм (V), диагональ 6.813 мм).
- Размер пикселя: 1.67 x 1.67 мкм.
- Чувствительность: 0.31 В/люкс-с. (550 нм).
- Динамический диапазон: 65.2 дБ.
- АЦП 12 бит, 8 бит RGB -> ПК.
- Сигнал/шум 34.0 дБ.
- Спектральный диапазон 400–650 нм (с ИК-фильтром).
- Скорость передачи (зависит от ПК):
1. 1.9 кадра в секунду (3264 x 2448);
2. 8 кадров в секунду (1600 x 1200);
3. 27 кадров в секунду (800 х 600).
- Биннинг: 1 х 1, 2 x 2, 4 x 4.
- Экспозиция: автоматическая/ручная,
- Электронный скользящий затвор (ERS), 0.38~2000мс.
- Баланс белого: авто / ручная настройка.
- Режим захвата: фото/видео.
В комплекте поставляется программное обеспечение.
Функции ПО:
- настройка всех параметров камеры;
- предпросмотр Live View;
- снимки в следующих форматах: BMP, JPEG, PNG, TIFF, GIF, PCX, TGA, PSD, ICO, EMF, WMF, JBG, WBMP, JP2, J2K, TFT;
- захват и сохранение покадровых снимков;
- захват и сохранение видео;
- настройка оттенков серого вживую;
- инструменты измерения.
|
