Дослідницька система якості бітуму, згідно з EN 13632 на базі люмінесцентного мікроскопа LV150N, Nikon Metrology
  • Особливості
  • Характеристики

Унікальна система на основі люмінесцентного мікроскопа LV150N із флуоресцентною приставкою дозволяє проводити дослідження відповідно до стандарту EN 13632 «Бітум та бітумні в’яжучі. Візуальна оцінка полімерної дисперсії у полімер-модифікованому бітумі». Відповідно до стандарту EN 13632, бітумний шар розбивають на дрібні шматочки, а свіжорозламану поверхню розглядають через епіфлуоресцентний (збудження світлом, що падає) мікроскоп зі збільшенням від 25 до 500 разів. Встановлено спеціальний набір світлофільтрів для збудження флуоресценції всіх полімерів, що застосовуються у виробництві. Об'єктиви зі збільшеною робочою відстанню дозволяють працювати як із підготовленими пробами, так і безпосередньо з бітумом, нанесеним на підкладку. Система документування дозволяє зберігати отримані зображення та вставляти їх у звіти. Спеціальне ПЗ дозволяє з аналізу отриманих зображень автоматично оцінювати дисперсність бітумно-полімерного складу ПБВ.

Отримати комерційну пропозицію

Особливості

Програмне забезпечення SEO ImageLab для аналізу зображень та оцінювання дисперсності бітумно-полімерного складу ПБВ.

Програмне забезпечення SEO ImageLab призначене для роботи  з метою дослідження та промисловою метою, а також для лабораторного контролю якості.

Функціональні можливості забезпечують проведення морфологічних і фотометричних досліджень препаратів у матеріалознавстві та суміжних областях. 

Основні можливості SEO ImageLab:

  • Завантаження раніше записаних зображень в основних графічних форматах BMP, JPEG, GIF, TIFF, PNG і збереження оброблених зображень.
  • Робота із завантаженими зображеннями в таких режимах:
  1. калібрування;
  2. перетворення й поліпшення зображень за допомогою фільтрів;
  3. проведення лінійних і кутових вимірювань;
  4. автоматизоване й ручне виділення та вимірювання об'єктів; морфологічний і фазовий аналіз;
  5. статистичне оброблення результатів вимірювань, побудова діаграм розподілу за параметрами вимірювань;
  6. збереження результатів вимірювань;
  7. протоколювання досліджень.

 За допомогою статистичного оброблення зображень мікроструктури можливо вивести розподіл за параметром вимірювань (наприклад, середній еквівалентний діаметр, площа, периметр тощо і всі необхідні статистичні дані (кількість виміряних об'єктів, середнє й сумарне значення параметра, СКВ параметра, мінімальне й максимальне значення параметра, коефіцієнт варіації).

Унікальна система на основі люмінесцентного мікроскопа LV150N із флуоресцентною приставкою дозволяє проводити дослідження відповідно до стандарту EN 13632 «Бітум та бітумні в’яжучі. Візуальна оцінка полімерної дисперсії у полімер-модифікованому бітумі». Відповідно до стандарту EN 13632, бітумний шар розбивають на дрібні шматочки, а свіжорозламану поверхню розглядають через епіфлуоресцентний (збудження світлом, що падає) мікроскоп зі збільшенням від 25 до 500 разів. Встановлено спеціальний набір світлофільтрів для збудження флуоресценції всіх полімерів, що застосовуються у виробництві. Об'єктиви зі збільшеною робочою відстанню дозволяють працювати як із підготовленими пробами, так і безпосередньо з бітумом, нанесеним на підкладку. Система документування дозволяє зберігати отримані зображення та вставляти їх у звіти. Спеціальне ПЗ дозволяє з аналізу отриманих зображень автоматично оцінювати дисперсність бітумно-полімерного складу ПБВ.

Отримати комерційну пропозицію

Найменування

Характеристики

Кількість

MBA61015

Стенд мікроскопа Eclipse LV150N (100-240 В)

1

MBF11300

Кабель живлення

1

MBB63425

Тринокулярна голова LV-TI3 (поле зору 22 або 25 мм, розподіл інтенсивності  100:0/0:100)

1

MBB63435

Адаптер LV-TV для LV-TI3

1

MAK30105

Окуляр CFI 10X із підлаштуванням діоптрій (поле зору 25 мм)

2

MBP60125

5-позиційна револьверна головка LV-NU5

1

MBC60700

Механічний стіл L-S64, хід 75 × 50 мм, вставка зі скла

1

MUE12030

Об’єктив CFI T Plan Epi 2.5X, (NA/WD: 0.075/6.5 мм) 

1

MUD00050

Об’єктив MTI LE PLAN EPI 5x  (NA/WD: 0.10/31 мм)

1

MUD00100

Об’єктив MTI LE PLAN EPI 10x  (NA/WD: 0.25/13 мм)

1

MUD00200

Об’єктив MTI LE PLAN EPI 20x  (NA/WD: 0.40/3.6 мм)

1

MUD00500

Об’єктив MTI LE PLAN EPI 50x  (NA/WD: 0.75/0.50 мм)

1

MBE60201

Приставка для епіскопічного освітлення LV-UEPI-2, з можливістю роботи в УФ діапазоні й реалізації світлого поля, темного поля, поляризації, ДІК, двопроменевої інтерферометрії

1

MBE65275

Центрований освітлювач LV-LH50PC

1

MXA23045

Галогенова лампа LV-HL50W (12 В, 50 Вт)

1

MQD42055

Адаптер для підключення камери C-0.55X

1

 Цифрова фотокамера ToupCam 800 UCMOS 8.0MP (C-mount)

 Технічні характеристики ToupCam 800 UCMOS (C-mount):

  • Модель сенсора: Aptina MT9M001.
  • Розгортка: прогресивна.
  • Максимальна роздільна здатність: 3264 x 2448 (~8.0 Мпікс).
  • Розмір сенсора: 1/2.5" (5.451 мм (H) x 4.088 мм (V), діагональ 6.813 мм).
  • Розмір пікселя: 1.67x1.67 мкм.
  • Чутливість: 0.31 В/люкс-сек. (550 нм).
  • Динамічний діапазон: 65.2 дБ.
  • АЦП 12 біт, 8 біт RGB -> ПК.
  • Сигнал/шум 34.0 дБ.
  • Спектральний діапазон 400–650 нм (з ІЧ фільтром).
  • Швидкість передачі (залежить від ПК):
  1. 9 кадра за секунду (3264 x 2448);
  2. 8 кадрів за секунду (1600 x 1200);
  3. 27 кадрів за секунду (800 х 600).
  • Бінінг: 1 х 1, 2 x 2, 4 x 4.
  • Експозиція: автоматична/ручна.
  • Електронний ковзний затвор (ERS), 0.38~2000мс.
  • Баланс білого: авто/ручне налаштування.
  • Режим захоплення: фото/відео.

 У комплекті постачається програмне забезпечення.

 Функції:

  • налаштування всіх параметрів камери;
  • перегляд Live View;
  • знімки в таких форматах: BMP, JPEG, PNG, TIFF, GIF, PCX, TGA, PSD, ICO, EMF, WMF, JBG, WBMP, JP2, J2K, TFT;
  • захоплення й збереження покадрових знімків;
  • захоплення й збереження відео;
  • налаштування відтінків сірого наживо;
  • інструменти вимірювання.